NF EN 60749-13

décembre 2002

Norme Annulée

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 13 : atmosphère saline

Le présent document décrit un essai d'atmosphère saline appliqué aux dispositifs à semiconducteurs.

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Informations complémentaires

Remplace l'article 6 du chapitre 3 de la norme NF EN 60749 (C96-022) de décembre 1999 et ses amendements A1 de février 2002 et A2 de juin 2002

Informations générales

Collections

Normes nationales et documents normatifs nationaux

Date de publication

décembre 2002

Nombre de pages

8 p.

Référence

NF EN 60749-13

Codes ICS

31.080.01 Dispositifs à semi-conducteurs en général

Indice de classement

C96-022-13

Numéro de tirage

1 - 24/01/2003

Parenté internationale

IEC 60749-13:2002

Parenté européenne

EN 60749-13:2002

Résumé

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 13 : atmosphère saline

Le présent document décrit un essai d'atmosphère saline appliqué aux dispositifs à semiconducteurs.

Norme remplacée par (1)

NF EN IEC 60749-13

avril 2018

Norme En vigueur

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 13 : atmosphère saline

Le présent document décrit un essai d'atmosphère saline réalisé pour déterminer la résistance à la corrosion des dispositifs à semiconducteurs. Il s'agit d'un essai accéléré qui simule les effets d'une atmosphère côtière corrosive sur toutes les surfaces exposées. Il n'est applicable qu'aux dispositifs spécifiés pour un environnement maritime. L'essai d'atmosphère saline est considéré comme destructif.

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