NF C96-045
Dispositifs à semiconducteurs - Circuits intégrés - Onzième partie : spécification intermédiaire pour les circuits intégrés à semiconducteurs à l'exclusion des circuits hybrides
Cette norme s'applique aux circuits intégrés à semiconducteurs en boîtier, y compris les circuits intégrés polylithiques, mais à l'exclusion des circuits hybrides et doit être lue conjointement avec la spécification générique à laquelle elle se réfère. Elle donne des détails sur les procédures d'assurance de la qualité, les exigences de contrôle, les séquences de sélection, les exigences pour les prélèvements, les essais et les mesures exigés pour tous les circuits intégrés à semiconducteurs, comprenant les circuits digitaux, analogiques et d'interface.
Cette norme s'applique aux circuits intégrés à semiconducteurs en boîtier, y compris les circuits intégrés polylithiques, mais à l'exclusion des circuits hybrides et doit être lue conjointement avec la spécification générique à laquelle elle se réfère. Elle donne des détails sur les procédures d'assurance de la qualité, les exigences de contrôle, les séquences de sélection, les exigences pour les prélèvements, les essais et les mesures exigés pour tous les circuits intégrés à semiconducteurs, comprenant les circuits digitaux, analogiques et d'interface.
- PREAMBULE3
- PREFACE3
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1. Domaine d'application7
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2. Généralités7
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2.1 Documents applicables7
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2.2 Valeurs recommandées de températures7
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2.3 Valeurs recommandées de tensions7
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2.4 Définitions relatives aux opérations7
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3. Sous-traitance11
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4. Etape initiale de fabrication11
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4.1 Dispositifs bipolaires11
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4.2 Dispositifs unipolaires11
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5. Procédures d'assurance de la qualité13
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5.1 Procédures d'homologation13
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5.2 Procédures d'agrément de savoir-faire13
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6. Procédures d'associativité13
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6.1 Règles générales13
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6.2 Critères d'associativité spécifiques à chaque essai - Tableau I15
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7. Groupes et sous-groupes23
- Tableau II - Groupe A : Contrôles lot par lot23
- Tableau III - Groupe B . Contrôles lot par lot25
- Tableau IV - Groupe C : Contrôles périodiques27
- Tableau V - Groupe D29
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8. Sélection29
- Tableau VI - Sélection31
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9. Exigences pour les prélévements33
- Tableau VII - Exigences pour les prélèvements des essais du groupe33
- Tableau VIII - Exigences pour les prélèvements des essais des groupes B, C et D pour lesquels on doit utiliser les33
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10. Identification des bornes35
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11. Informations supplémentaires (à l'étude)35
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12. Procédures d'essais et de mesures35
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12.1 Méthodes de mesures électriques35
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12.2 Méthodes d'essais mécaniques et climatiques35
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12.3 Essais d'endurance électrique35
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12.4 Procédures d'essais accélérés37
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12.5 Mesures par corrélation37
- ANNEXE A -Guide et format pour la rédaction des spécifications particulières cadres41
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