NF EN 60747-15

NF EN 60747-15

June 2013
Standard Current

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 15 : isolated power semiconductor devices

Le présent document donne les exigences relatives aux dispositifs de puissance à semi-conducteurs isolés avec circuits de commande intégrés. Ces exigences s'ajoutent à celles données dans d'autres parties de la NF EN 60747 pour les dispositifs de puissance non-isolés correspondants. Le présent document doit être lu conjointement avec la IEC 60747-1 de 2006.

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Main informations

Collections

National standards and national normative documents

Publication date

June 2013

Number of pages

30 p.

Reference

NF EN 60747-15

ICS Codes

31.080.01   Semiconductor devices in general

Classification index

C96-015

Print number

1

International kinship

IEC 60747-15:2010

European kinship

EN 60747-15:2012
Sumary
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 15 : isolated power semiconductor devices

Le présent document donne les exigences relatives aux dispositifs de puissance à semi-conducteurs isolés avec circuits de commande intégrés. Ces exigences s'ajoutent à celles données dans d'autres parties de la NF EN 60747 pour les dispositifs de puissance non-isolés correspondants. Le présent document doit être lu conjointement avec la IEC 60747-1 de 2006.
Replaced standards (1)
NF EN 60747-15
January 2005
Standard Cancelled
Discrete semiconductor devices - Part 15 : isolated power semiconductor devices

Le présent document décrit les normes de produit spécifiques, les exigences et les méthodes d'essai.

Table of contents
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  • Avant-propos
    2
  • 1 Domaine d'application
    5
  • 2 Références normatives
    5
  • 3 Termes et définitions
    6
  • 4 Symboles littéraux
    7
  • 4.1 Généralités
    7
  • 4.2 Symboles et indices supplémentaires
    7
  • 4.3 Liste de symboles littéraux
    7
  • 5 Valeurs assignées (valeurs limites) et caractéristiques essentielles
    8
  • 5.1 Généralités
    8
  • 5.2 Valeurs assignées (valeurs limites)
    8
  • 5.3 Caractéristiques
    10
  • 6 Méthodes de mesure
    12
  • 6.1 Vérification de la valeur assignée de tension d'isolement entre bornes et embase (Visol)
    12
  • 6.2 Méthodes de mesures
    13
  • 7 Réception et fiabilité
    19
  • 7.1 Exigences générales
    19
  • 7.2 Liste des essais d'endurance
    19
  • 7.3 Critères de définition de la réception
    19
  • 7.4 Essais de type et essais individuels de série
    20
  • Annexe A (informative) Méthode d'essai du courant de crête de non rupture de boîtier
    22
  • Annexe B (informative) Méthode de mesure de l'épaisseur d'une pâte thermique isolante
    25
  • Annexe ZA (normative) Références normatives à d'autres publications internationales avec les publications européennes correspondantes
    26
  • Bibliographie
    28
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